67-5068-84 Field Emission Scanning Electron Microscopy 978-981-10-4432-8
仕様
- サブタイトル：New Perspectives for Materials Characterization
- 著者：Brodusch, Nicolas/Demers, Hendrix/Gauvin, Raynald
- 叢書名：SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
- 装丁：Paper
- 頁数他：XII, 137 p. 53 illus., 20 illus. in color.
- 発行日：2017/10/06
- 分類：物理学： 走査プローブ顕微鏡
よくあるご質問（FAQ）
掲載カタログ情報
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