67-5068-72　Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy　978-1-118-45609-5

[(publisher) Wiley-Blackwell]

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仕様

著者：Mendis, B
装丁：Hard
頁数他：296 p.
発行日：2018/04/27
分類：物理学：電子顕微鏡

アズワン品番: 67-5068-72

型番: 978-1-118-45609-5

入り数: 1冊

標準価格: 29,930円（税抜）

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