67-5065-30　Coupled Diffusion of Impurity Atoms and Point Defects in Silicon Crystals　978-1-78634-715-2

[(publisher) World Scientific]

印刷

※お見積書はカートで印刷できます

仕様

著者：Velichko, Oleg
装丁：Hard
頁数他：404 p.
発行日：2019/11/06
分類：シリコン半導体

アズワン品番: 67-5065-30

型番: 978-1-78634-715-2

入り数: 1冊

標準価格: 30,610円（税抜）

WEB価格

アズワン在庫 [?]

数量

※お気に入り機能はログイン後にご利用いただけます

よくあるご質問

よくあるご質問（FAQ）

よくあるご質問を検索する

掲載カタログ情報

掲載カタログ名	掲載ページ

アズワンの【AXEL】Coupled Diffusion of Impurity Atoms and Point Defects in Silicon Crystalsのコーナーです。AXELは研究開発、医療介護、生産現場、食品衛生など幅広い分野に1400万点以上の品揃えでお応えする通販サイト。3000円以上ご注文で送料無料。