67-5050-12 Electromigration in Metals 978-1-107-03238-5
[(publisher) Cambridge U.P.]
仕様
- サブタイトル：Fundamentals to Nano-Interconnects
- 著者：Ho, Paul/Hu, Chao-Kun/Gall, Martin/Sukharev, Valeriy
- 装丁：Hard
- 頁数他：430 p.
- 発行日：2022/05/12
- 分類：金属腐食・劣化と防除
よくあるご質問（FAQ）
掲載カタログ情報
| 掲載カタログ名 | 掲載ページ |
|---|