67-5047-27 Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials 978-3-527-34951-7
[(publisher) Wiley-VCH]
仕様
- サブタイトル：Instrumentation, Data Analysis and Applications
- 著者：Wee, Andrew Thye Shen/Yin, Xinmao/Tang, Chi Sin
- 装丁：Paper
- 頁数他：208 p.
- 発行日：2022/04/13
- 分類：材料評価
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掲載カタログ情報
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