67-4965-94 Software Reliability Growth Models 978-981-16-0024-1
仕様
- 著者：Hanagal, David D./Bhalerao, Nileema N.
- 叢書名：Infosys Science Foundation Series
- 装丁：Hard
- 頁数他：XXI, 104 p. 40 illus.
- 発行日：2021/02/27
- 分類：ソフトウェア信頼性・セキュリティ
よくあるご質問（FAQ）
掲載カタログ情報
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