65-8290-55 磁気・渦電流膜厚計 TIME2510E
特徴
- 2510に有線プローブを追加したタイプです。
- Fタイプ磁気誘導（鉄）及びNタイプ渦電流（非鉄）の測定方式があります。
- ゼロ点校正および二点校正ができます。
- 連続測定と単一測定ができます。
- 直接測定とバッチ測定ができます。
- 平均値（MEAN）、最大値（MAX）、最小値（MIN）、測定データ数（NO）および標準偏差（S.DEV）の表示ができます。
- 測定基板の自動認識機能付です。
- 500件の測定データ保存が可能です。
- 測定値、統計値をプリンタ（TA230：別売）で印刷可能です。
- バックライトディスプレーです。
仕様
- 測定方式：磁気誘導（F）, 渦電流（N）
- 測定範囲：0-1250um（F）, 0-1250um（N）, 0-40um（N, 銅上のクローム板）
- 分解能：0.1um
- 測定誤差：±（3％H+1）um（F,ゼロ点校正）, ±（3％H+1.5）um（Nゼロ点校正）, ±{（1-3）％H+1}um（F, 2点校正）, ±{（1-3）％H+1.5}um（N, 2点校正）Hは試験物の厚さ
- 最小曲率半径：凸度1.5mm（F）, 凸度3mm（N）
- 最小試験面積直径：7mm（F）, 5mm（N）
- 基盤の臨界厚さ：0.5mm（F）, 0.3mm（N）
- 動作環境：使用環境温度0～40℃, 使用環境湿度20～90％, 強い磁場環境ではない
- 電源：単4型乾電池2本（別売）
- サイズ：110x50x23mm
- 重量：100g
