64-8873-94　［取扱停止］電磁膜厚計　LE-200J

仕様

• 測定方式：電磁誘導式
• 測定対象：磁性金属上の非磁性被膜
• 測定範囲：0～1500μmまたは60.00mils
• 測定精度：15μm未満：±0.3μm、15μm以上：±2％
• 分解能：100μm未満：0.1μm、100μm以上：1.0μm
• 適合規格：JIS　K5600-1-7、JIS　H8501、JIS　H0401/ISO　2808、ISO　2064、ISO　1460、ISO　2178、ISO　19840/BS　3900-C5/ASTM　B　499、ASTM　D　7091-5、ASTM　E　376
• 統計機能：測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック番号
• プローブ：一点接触定圧式（LEP-J）
• 表示方法：デジタル（LCD、表示最小桁0.1μm）
• 外部出力：RS-232Cインターフェース（転送速度2400bps）
• 電源：AC100V（50/60Hz）または電池1.5V（単3アルカリ）本体部×6、プリンタ部×4
• 寸法・質量：120（W）×250（D）×55（H）mm、1.0kg
• 付属品：標準板（10μm・50μm・100μm・350μm・800μm・1mm　いずれも近似値・各1枚）、鉄素地、標準板ケース、電池1.5V（単3アルカリ）、ACアダプタ、プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース
• オプション：L字型プローブ（LEP-21L）、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKDL-01」、「McWAVE　Lite」、「McWAVE　Standard」、「McWAVE　Professional、「MultiProp」
• 荷姿サイズ：120×250×55mm　1.00kg [荷姿サイズについて]