64-6096-84 デバイスモデリング教材 トランジスタモデル編 DM-005
[Bee Technology] Device Modeling Teaching Materials Transistor Model Edition
仕様
- 今だけ20％OFF！！【概要】
- トランジスタはデバイスモデリングの基礎です。
- Evers-Moll Model、Gummel-Poon Model、PSpice の等価回路の解説から始まり、デバイスモデリングのプロセス、評価解析シミュレーションの方法論が掲載 されております。
- また、トピックとして、サーマル・デバイスモデリング、パワーBJT、ダーリントン・トランジスタ も掲載されています。
- トランジスタのご理解に是非、ご活用下さい。
- 【目次】
- 1. デバイスモデリングについて
- 2. デバイスモデリング
- 2.1 序論
- 2.2 Gummel-Poon モデルとEvers-Moll モデルの相違点
- 2.3 VARの抽出方法
- 2.4 BR、IKF、ISC、NCの抽出方法
- 2.5 IS、RB抽出方法
- 2.6 VAFの抽出方法
- 2.7 BF、IKF、ISE、NE、NKの抽出方法
- 2.8 RCの抽出方法
- 2.9 CJC、VJC、MJCの抽出方法
- 2.10 CJE、VJE、MJEの抽出方法
- 2.11 TFの抽出方法
- 2.12 TRの抽出方法
- 2.13 サーマル・デバイスモデリングについて
- 2.14 パワー・トランジスタモデルについて
- 2.15 ダーリントン・トランジスタモデルについて
- デバイスモデリング実習
- デバイスモデル評価方法
- 4.1 Ic-hFE特性
- 4.2 Vce（sat） Voltage特性
- 4.3 Vbe（sat） Voltage特性
- 4.4 Output特性
- デバイスモデル評価回路シミュレーション実習（PSpice）
- 低損失リニア・レギュレータ 回路シミュレーション（）
- 6.1 低損失リニア・レギュレータについて
- 6.2 回路解析シミュレーションの考え方
- 6.3 デバイスモデルを組み込み回路解析シミュレーションを実施
