63-5142-39　［取扱停止］ICテストクリップ　SOIC　用　8極　923655-08

特徴

• ICテストクリップ　-　3M
• ハイグレードな熱可塑成形入りのニッケル銀合金コンタクト付きプロフェッショナルICテストクリップ　電気的信頼性に最適なコンタクトの　ダックビル　ワイピング動作、強固で均一な接触圧を実現するヘビーデューティスプリング、及びプローブが直接DIP　（Dual-In-Line）パッケージピンにアクセスできるオープンノーズデザインが特長。
• 電気短絡の危険を排除するため、コンタクトコームがDIPパッケージリードにフィット　最大14、16、20、24、28及び40ピンまでの標準DIPパッケージに使用可能なテストクリップ　ボディ材質は、高品位熱可塑樹脂、金めっき　コンタクト材質はニッケル銀合金　動作温度範囲：-55°C→165°C　難燃性等級：UL94V-0　定格電流：2　A

仕様

• 入数：1個
• 極数：8
• コンタクトめっき：金
• パッケージスタイル：SOIC
• RoHS適合状況：適合
• コード番号：842-0597