仕様
- サイズ（mm）：510×515
- 材質：B270
- CTE：9.4
- 入数：1箱（25枚入）
- 厚み：1.1mm
- ※特注サイズの製作・R面取側面磨きの製作・高TTV品の製作・特殊材料の調達・特殊梱包対応も承ります。
商品のバリエーション （サイズ違い・スペック違い・オプション品など）
| 商品イメージ | アズワン品番 商品名 |
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60-1368-56
テンパックス 510×515 t1.1mm 半導体用テスト基板 10枚入
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60-1368-59
ソーダガラス 510×515 t1.1mm 半導体用テスト基板 10枚入
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60-1368-60
ソーダガラス 510×515 t1.1mm 半導体用テスト基板 25枚入
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60-1368-64
B270 510×515 t1.1mm 半導体用テスト基板 50枚入
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60-1368-58
テンパックス 510×515 t1.1mm 半導体用テスト基板 50枚入
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60-1368-63
B270 510×515 t1.1mm 半導体用テスト基板 25枚入
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60-1368-62
B270 510×515 t1.1mm 半導体用テスト基板 10枚入
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60-1368-57
テンパックス 510×515 t1.1mm 半導体用テスト基板 25枚入
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60-1368-53
EAGLE XG 510×515 t1.1mm 半導体用テスト基板 10枚入
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60-1368-54
EAGLE XG 510×515 t1.1mm 半導体用テスト基板 25枚入
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60-1368-55
EAGLE XG 510×515 t1.1mm 半導体用テスト基板 50枚入
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60-1368-61
ソーダガラス 510×515 t1.1mm 半導体用テスト基板 50枚入
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よくあるご質問（FAQ）
掲載カタログ情報
| 掲載カタログ名 | 掲載ページ |
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